Seminar: "Implementación de la técnica de Z-Scan para la medición del índice de refracción no lineal y el coeficiente de absorción de dos fotones en sistemas físicos nanoestructurados"

Ciclo de Seminarios CIOP 

Jueves 17 de octubre  2013
10:30 horas

"Implementación de la técnica de Z-Scan para la medición del índice de refracción no lineal y el coeficiente de absorción de dos fotones en sistemas físicos nanoestructurados"

Expositor

MSc. Juan Humberto Serna

Instituto de Física, Grupo de óptica y Fotónica, Universidad de Antioquia, Medellín-Colombia.

Physics Department, Southern Illinois University, Edwardsville-USA

Resumen

En esta charla se hace una descripción de la técnica de Z-scan, utilizada para medir el índice de refracción no lineal y el coeficiente de absorción de dos fotones en diferentes tipos de materiales, incluidos sistemas físicos nanoestructurados. Se muestra además cuales son los detalles experimentales de dicha técnica y cuál fue el procedimiento que se siguió para su implementación en el Centro de Investigaciones Ópticas (CIOP). Al final de la charla se presentan los resultados obtenidos y se proponen algunos montajes de espectroscopía ultrarrápida que pueden ser implementados en el laboratorio.

Organizan
CIOP & CIOp-UNLP Student Chapter OSA SPIE